2010年6月23日，凯发k8国际非破坏检测部门（以下简称“NDI部”）的高端CT应用技术研讨会在上海银星皇冠假日酒店四楼会议厅隆重举行。研讨会共邀请到40余家公司，计70余位客户前来参会。 
      本次研讨会由凯发k8国际NDI市场部主办，日本凯发k8国际总部NDI部岸先生、NDI部中国区总负责人八岛先生参加了会议，并与客户展开了热烈的讨论。岸先生进行了约两个小时深入浅出的演讲，对个案进行了具体分析和说明。演讲从高端CT技术和产品出发，着重向与会者介绍了其在各个领域、尤其是电子、铸造等行业中的应用。

NDI中国区总负责人八岛先生（右一）向来宾致词




来宾聚精会神地听讲解

      演讲完毕后，岸先生又对与会者感兴趣的问题进行了解答。与会人员普遍表示对CT技术有了更深层次的了解。参加此次会议的人员有来自RICOH、松下电池、京瓷、尼奇康等知名企业，且横跨电子、铸造、石油勘探等多个领域。

针对各领域进行应用介绍

      近年来，随着工业用微焦点X射线CT技术的普及和发展，以及研究领域的不断延伸，作为非破坏检测的重要手段之一的高端CT，其普及已势在必行。
      凯发k8国际公司一直致力于工业用微焦点X射线技术的应用研究，并不断积极进取，以为客户提供更便捷、更安全、更高效的仪器为宗旨而不断努力。