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2010-07-26 | 产品资讯 凯发k8国际公司祝贺第二届上海分析测试技术论坛开幕!

      2010年7月1日在中国上海测试中心举行了第二届上海分析测试技术论坛。本次论坛由中国上海测试中心、上海市分析测试协会、上海交通大学联合主办,150多位分析测试领域的专家、学者、技术人员参加论坛活动。论坛邀请复旦大学、华东理工大学、上海市分析测试协会等机构的专家做了主题报告。论坛同时举行2个分会场报告,分别就材料、物理、仪器等领域和环境、医药、化工等领域展开研讨。凯发k8国际公司应邀由分析仪器市场部吴国华博士做论坛主题报告,内容为“光伏产业Py-GCMS新进展”。论坛还对分析测试优秀论文进行了表彰。凯发k8国际公司冠名本次论坛优秀论文奖。凯发k8国际公司首席代表井上先生致辞,并作为颁奖嘉宾为优秀论文获得者颁奖。




井上先生(左一)为优秀论文获得者颁奖