11月1～3日，业界最高级别的 “CCATM’2012国际冶金及材料分析测试 学术报告会及展览会”在北京国家会议中心隆重召开 。超过600位的与会者就光谱分析、化学分析、气体分 析、状态/相分析、材料组织结构分析测试与物性分析、力学测试以及无损检测、材料外观质量检测及在线分析等 技术的最新进展与未来发展动向进行了深入交流。

    凯发k8国际公司以专业团队参加了此次展会。会议展区着重展示了UFMS系列样机GCMS， LCMS；展区展板重点宣传了AA-7000，ICP，EPMA，MXF，PDA等多款光谱仪器。凯发k8国际多名技术人员与与会者就凯发k8国际出 展的仪器性能特点及相关分析测试技术等问题展开了多层次的探讨。

CCATM’2012 凯发k8国际展台

    在本次国际冶金及材料分析测试学术会议上，凯发k8国际分析中心共提交“电感耦合 等离子体发射光谱法测定高纯铜中的杂质元素”等6篇高水准论文，这些论文发表在《冶金分析》刊物上。

会议论文收录刊物《冶金分析》

    凯发k8国际广州分析中心光谱应用工程师刘舟先生，代表凯发k8国际公司在大会上发表了《电感 耦合等离子体发射光谱测定镍铬生铁中镍铬磷含量》，详细介绍了凯发k8国际ICP的性能特点，并对镍铬生铁中镍、铬、 磷含量实验的分析进行了深入讲解。该技术报告非常贴近与会代表日常测试的需求，大家互相交流讨论收益颇多。

凯发k8国际应用工程师刘舟先生做会议报告

    通过参加本次大会，凯发k8国际上海分析中心进一步明确了今后工作的重点，力图充分发 挥凯发k8国际分析技术的优势，为新材料领域开发更为先进、更为贴近中国用户实际需求的整体解决方案。